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| 國立臺灣科技大學 |
2015 |
Process Yield Analysis for Linear Within-Profile Autocorrelation
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Wang, F.-K.;Tamirat, Y. |
| 國立臺灣科技大學 |
2016 |
Process yield analysis for multivariate linear profiles
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Wang, F.-K. |
| 國立臺灣科技大學 |
2016 |
Process Yield Analysis for Nonlinear Profiles in the Presence of Gauge Measurement Errors
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Wang, F.-K. |
| 國立臺灣科技大學 |
2013 |
Process yield for a manufactured product
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Wang, F.-K.;Chu, D. |
| 國立臺灣科技大學 |
2016 |
Process Yield for Multiple Stream Processes with Individual Observations and Subsamples
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Wang, F.-K. |
| 國立臺灣科技大學 |
2016 |
Process Yield for Multiple Stream Processes with Individual Observations and Subsamples
|
Wang, F.-K. |
| 國立臺灣科技大學 |
2016 |
Process yield for multivariate linear profiles with one-sided specification limits
|
Wang, F.-K.;Tamirat, Y. |
| 國立臺灣科技大學 |
2016 |
Process yield for multivariate linear profiles with one-sided specification limits
|
Wang, F.-K;Tamirat, Y. |
| 亞洲大學 |
2018-12 |
Process Yield Index and Variable Sampling Plans for Autocorrelation between Nonlinear Profiles
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耶利納;Negash, Yeneneh Tamirat |
| 國立臺灣科技大學 |
2008 |
Process yield with measurement errors in semiconductor manufacturing
|
Wang, F. K. |
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