臺灣學術機構典藏系統 (Taiwan Academic Institutional Repository, TAIR)

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機構	日期	題名	作者
國立臺灣大學	1997	積體電路生產敏捷性的提昇	周雍強
國立交通大學	2014-12-12T02:13:07Z	積體電路生產線上利用群聚分析之修正缺點數管制圖	劉宗明; T.M.Liu; 唐麗英；李威儀; Lee-Ing Tong;Wei-I Lee
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上利用類神經網路方法修正缺陷群聚現象之管制圖	王永慶; Wang, Yung-Ching; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學	2014-12-13T10:38:27Z	積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖	唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學	2014-12-12T02:14:36Z	積體電路生產線上各檢驗站缺陷數與產品良率關聯性之研究	黃建隆; Huang, Chien-Lung; 唐麗英, 李威儀; Tong Lee-Ing, Lee Wei-I
國立交通大學	2014-12-12T02:22:14Z	積體電路生產線上結合缺陷數與缺陷群聚之Hotelling T2多變量管制圖	吳炤華; Wu Chao-Hwa; 唐麗英; Prof. Lee-Ing Tong
國立交通大學	2014-12-12T02:24:37Z	積體電路生產線上結合缺陷數與群聚指標之Hotelling T2多變量管制圖	黃志力; Chih Li Huang; 唐麗英; Lee-Ing Tong
國立交通大學	2014-12-13T10:38:10Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象之修正良率模式	唐麗英; TONG LEE-ING
國立交通大學	2014-12-12T02:12:54Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象的製程管制圖	曾乙弘; Tseng, Yi-Horng; 唐麗英; 李威儀; Tong, Lee-Ing; Lee, Wei-I
國立交通大學	2014-12-12T02:14:35Z	積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象管制程序之研究	楊月美; Yang, Yue-Mei; 唐麗英, 李威儀; Lee-Ing Tong, Wei-I Lee

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