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| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:22:14Z |
積體電路生產線上結合缺陷數與缺陷群聚之Hotelling T2多變量管制圖
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吳炤華; Wu Chao-Hwa; 唐麗英; Prof. Lee-Ing Tong |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:24:37Z |
積體電路生產線上結合缺陷數與群聚指標之Hotelling T2多變量管制圖
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黃志力; Chih Li Huang; 唐麗英; Lee-Ing Tong |
| 國立交通大學 |
2014-12-13T10:38:10Z |
積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象之修正良率模式
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唐麗英; TONG LEE-ING |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:12:54Z |
積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象的製程管制圖
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曾乙弘; Tseng, Yi-Horng; 唐麗英; 李威儀; Tong, Lee-Ing; Lee, Wei-I |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T02:14:35Z |
積體電路生產線上考慮缺陷群聚現象管制程序之研究
|
楊月美; Yang, Yue-Mei; 唐麗英, 李威儀; Lee-Ing Tong, Wei-I Lee |
| 國立交通大學 |
2014-12-12T03:00:52Z |
積體電路產品之元件充電模式靜電放電測試與研究
|
黃志國; Huang, Chih-Kuo; 柯明道; Ker, Ming-Dou |
| 中華大學 |
2015 |
積體電路產品可靠度驗證評估系統
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謝竣丞; Hsieh, Chun-Cheng |
| 淡江大學 |
2009 |
積體電路產品品質 : 顧客滿意度與通路策略-以H公司為例
|
鍾雅晴; Chung, Ya-ching |
| 朝陽科技大學 |
2005-12-31 |
積體電路產品封裝後溫度循環試驗結果改善探討—以光學讀取元件（PDIC）的封裝作業實驗計畫法為例
|
顏子殷; Yen, Tzu-Yin |
| 國立成功大學 |
2013-02-04 |
積體電路產品故障分析與技術比較
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王英樹; Wang, Ying-Shu |
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